光伏組件pid測(cè)試

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光伏組件pid測(cè)試 測(cè)試介紹

PID(Potential Induced Degradation)也稱(chēng)為電勢(shì)誘導(dǎo)衰減,是指太陽(yáng)能電池在長(zhǎng)期受到一定的外電壓下發(fā)生功率衰減的現(xiàn)象。PID可能是由于太陽(yáng)能電池中與接地相關(guān)的負(fù)電壓引起的,這主要是由于無(wú)變壓器隔離型逆變器造成的。面板暴露的負(fù)電壓越大,PID效應(yīng)越強(qiáng)。中科檢測(cè)開(kāi)展光伏組件pid測(cè)試服務(wù),具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。

光伏組件pid測(cè)試 測(cè)試方法

PID測(cè)試有兩種加速老化的方法:
1)在特定的溫度、濕度下,在組件玻璃表面覆蓋鋁箔、銅箔或者濕布,在組件的輸出端和表面覆蓋物之間施加電壓一定的時(shí)間。
2)在85%濕度85℃或者是60℃或85℃的環(huán)境下將-1000V直流電施加在組件輸出端和鋁框上48~96小時(shí)。

光伏組件pid測(cè)試 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

PID 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)引自 IEC 62804 (Draft) 根據(jù)IEC61730-2 MST 01進(jìn)行外觀檢測(cè);
根據(jù)IEC61215第二版進(jìn)行最大功率測(cè)試;
根據(jù)IEC61215第二版條目10.15進(jìn)行濕漏電流測(cè)試;
如果組件有裸露的導(dǎo)電部位,則要根據(jù)IEC61730-2 MST13進(jìn)行接地連續(xù)性測(cè)試

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